賽默飛紫外可見分光光度計故障檢查排除方法：
1、故障：吸光值結果出現負值(最常見)
原因：沒做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液。
檢查：將參比液與樣品液調換位置便知。
處置：做空白記憶、調換參比液或用參比液配置樣品溶液。
2、故障：基線噪聲大
具體表示：樣品室內無任何物品的情況下，全波長范圍內基線噪聲大
原因：光源鏡位置不正確、石英窗表面被濺射上樣品。
檢查：觀察光源是否照射到入射狹縫的中央？石英窗上有無污染物？
處置：重新調整光源鏡的位置，用乙醇清洗石英窗。
3、故障：信號的分辨率不夠
具體表現是：本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到；
原因：狹縫設置過窄而掃描速度過快，造成檢測器響應速度跟不上，從而失去應測到的信號；按常理，一定的狹縫寬度要對應一定范圍的掃描速度；或者狹縫設置得過寬，使儀器的分辨率下降，將小峰融合在大峰里了。
檢查：放慢掃描速度看一看或將狹縫設窄；
處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數三者擬合成一個最優(yōu)化的條件。
4、故障：紫外區(qū)的基線噪聲大
具體表現：樣品室內無任何物品的情況下，僅僅是紫外區(qū)的基線噪聲大。
原因：氘燈老化、光學系統(tǒng)的反光鏡表面劣化、濾光片出現結晶物。
檢查：可見區(qū)的基線較為平坦，斷電后打開儀器的單色器及上蓋，肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表面有一層白色霧狀物覆蓋在上面；如果光學系統(tǒng)正常，最大的可能是氘燈老化，可以通過能量檢查或更換新燈方法加以判斷。
處置：更換氘燈、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片(注意：此種技巧需要有一定維修經驗者來實施)；清洗比色皿，更換空白溶液。
5、故障：樣品出峰位置不對
原因：波長傳動機構產生位移。
檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判斷波長是否準確。
處置：對于高檔儀器而言處理手段相對簡單，使用儀器固有的自動校正功能即可；而對于相對簡單的儀器，這種調整則需要專業(yè)人員來進行了。
6、故障：樣品信號重現性不良
原因：排除儀器本身的原因外，最大的可能是樣品溶液不均勻所致；在簡易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時重復推拉不在同一個位置上。
檢查：更換一種穩(wěn)定的試樣判定。
處置：采取正確的試樣配置手段；修理推拉式樣品架的定位碰珠。
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